Βελτίωση της Αξιοπιστίας ολοκληρωμένων κυκλωμάτων & συστημάτων σε νανομετρικές Τεχνολογίες

Αντικείμενο του έργου είναι η ανάπτυξη καινοτόμων τεχνικών αντιμετώπισης των μόνιμων, μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων στα σύγχρονα ολοκληρωμένα κυκλώματα κάτω από μια ενοποιημένη προσέγγιση η οποία θα βασίζεται στην αρχή της επαναχρησιμοποίησης πόρων για την υλοποίηση υψηλής ποιότητας τεχνικών ελέγχου και μηχανισμών διαχείρισης λαθών.

Ο Σκοπός είναι η ανάπτυξη καινοτόμων τεχνικών για την επίτευξη υψηλής αξιοπιστίας στα ολοκληρωμένα κυκλώματα και συστήματα νανομετρικών τεχνολογιών.

Στόχοι:

• Η ανάλυση των μηχανισμών δημιουργίας μόνιμων, μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων ώστε να καθοριστούν τα ιδιαίτερα χαρακτηριστικά τους,
• η μετατροπή ή/και επέκταση υπαρχόντων τεχνικών ενσωματωμένου αυτοελέγχου και τεχνικών συμπίεσης δεδομένων ελέγχου
• καθώς και η ανάπτυξη νέων, κατάλληλων τόσο για εργοστασιακό έλεγχο όσο και για διάφορους τύπους περιοδικού ελέγχου για την ανίχνευση μόνιμων σφαλμάτων και σφαλμάτων γήρανσης και
• η ανάπτυξη τεχνικών αντιμετώπισης μεταβατικών σφαλμάτων και διαλειπόντων σφαλμάτων σε κυκλώματα μνήμης και λογικής.
• Τελικός στόχος είναι η δραστική μείωση του κόστους με παράλληλη διατήρηση της υψηλής απόδοσης και ποιότητας του ελέγχου ορθής λειτουργίας.

Ειδικότερα στο πλαίσιο της πράξης θα εκτελεστούν οι ακόλουθες Δράσεις:

1. Συντονισμός και οικονομική διαχείριση του έργου.
2. Μελέτη της αιτίας και των συνεπειών των σφαλμάτων σε υπό-μικρονικές τεχνολογίες.
3. Τεχνικές ανίχνευσης μονίμων σφαλμάτων.
4. Τεχνικές αντιμετώπισης μεταβατικών σφαλμάτων σε SRAM μνήμες και μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων σε λογικά κυκλώματα.
5. Σχεδίαση, υλοποίηση και επιβεβαίωση των προτεινόμενων τεχνικών για μεταβατικά και διαλείποντα σφάλματα.
6. Ολοκληρωμένες προσεγγίσεις αντιμετώπισης μονίμων, μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων σε νανοτεχνολογίες.
7. Αξιολόγηση του έργου.