Abstract:
Αντικείμενο του έργου είναι η ανάπτυξη καινοτόμων τεχνικών αντιμετώπισης των μόνιμων, μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων στα σύγχρονα ολοκληρωμένα κυκλώματα κάτω από μια ενοποιημένη προσέγγιση η οποία θα βασίζεται στην αρχή της επαναχρησιμοποίησης πόρων για την υλοποίηση υψηλής ποιότητας τεχνικών ελέγχου και μηχανισμών διαχείρισης λαθών.
Ο Σκοπός είναι η ανάπτυξη καινοτόμων τεχνικών για την επίτευξη υψηλής αξιοπιστίας στα ολοκληρωμένα κυκλώματα και συστήματα νανομετρικών τεχνολογιών.
Στόχοι:
- Η ανάλυση των μηχανισμών δημιουργίας μόνιμων, μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων ώστε να καθοριστούν τα ιδιαίτερα χαρακτηριστικά τους,
- η μετατροπή ή/και επέκταση υπαρχόντων τεχνικών ενσωματωμένου αυτοελέγχου και τεχνικών συμπίεσης δεδομένων ελέγχου
- καθώς και η ανάπτυξη νέων, κατάλληλων τόσο για εργοστασιακό έλεγχο όσο και για διάφορους τύπους περιοδικού ελέγχου για την ανίχνευση μόνιμων σφαλμάτων και σφαλμάτων γήρανσης και
- η ανάπτυξη τεχνικών αντιμετώπισης μεταβατικών σφαλμάτων και διαλειπόντων σφαλμάτων σε κυκλώματα μνήμης και λογικής.
- Τελικός στόχος είναι η δραστική μείωση του κόστους με παράλληλη διατήρηση της υψηλής απόδοσης και ποιότητας του ελέγχου ορθής λειτουργίας.
Ειδικότερα στο πλαίσιο της πράξης θα εκτελεστούν οι ακόλουθες Δράσεις:
- Συντονισμός και οικονομική διαχείριση του έργου.
- Μελέτη της αιτίας και των συνεπειών των σφαλμάτων σε υπό-μικρονικές τεχνολογίες.
- Τεχνικές ανίχνευσης μονίμων σφαλμάτων.
- Τεχνικές αντιμετώπισης μεταβατικών σφαλμάτων σε SRAM μνήμες και μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων σε λογικά κυκλώματα.
- Σχεδίαση, υλοποίηση και επιβεβαίωση των προτεινόμενων τεχνικών για μεταβατικά και διαλείποντα σφάλματα.
- Ολοκληρωμένες προσεγγίσεις αντιμετώπισης μονίμων, μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων σε νανοτεχνολογίες.
- Αξιολόγηση του έργου.